Другие новости от Нанометр
Реклама на проекте
Победители конкурса Art of Failure 2014
Monday, 11 August, 22:08,
Нанометр
В рамках ежегодного международного симпозиума IEEE по физическому анализу и анализу отказов интегральных полупроводниковых схем (IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA) проводится весьма необычный конкурс под названием Art of Failure. Участники представляют на этот конкурс снимки, сделанные при помощи электронных или оптических микроскопов, на которых демонстрируются дефекты или другие объекты, послужившие причиной или являющиеся последствием выхода из строя различных полупроводниковых приборов.
Комментарии (0)