Другие новости от Нанометр
Реклама на проекте
Диагностика методом баллистической электронной эмиссионной микроскопии/спектроскопии - 2: Разработка головки для СЗМ НТ-МДТ® SolverPro™
Sunday, 15 March, 00:03,
Нанометр
В настоящей статье даны рекомендации к изготовлению оборудования для измерений методом баллистической электронной эмиссионной спектроскопии (БЭЭС), в частности, демонстрируется разработанная авторами приставка для сканирующего зондового микроскопа НТ-МДТ® SolverPro™.
Комментарии (0)