Впервые установленное физиками БГУ электрофизическим и термоэлектрическим методами дополнительное электрическое поле (ДЭП) в реальных контактах металл – полупроводник (КМП) недавно непосредственно измерено с помощью современной атомно-силовой микроскопии, разработаны КМП диоды с ДЭП, имеющие перспективные свойства, которые являются необходимыми для развития современной микроэлектроники и нанотехнологии.
Комментарии (0)