Другие новости от Нанометр
Реклама на проекте
Круглый стол «Анализ материалов методами СЗМ/РАМАН/ИК микроскопии» в ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН
Tuesday, 14 February, 11:02,
Нанометр
В Санкт-Петербурге 22.02.2017 с 11-00 до 14-00 в большом актовом зале ФТИ им. А. Ф. Иоффе РАН (главный корпус, желтое двухэтажное здание на ул. Политехническая 26) при поддержке Нанотехнологического Общества России и компании НТ-МДТ Спектрум Инструментс состоится в формате круглого стола семинар лабораторий П. Г. Баранова и Е. И. Терукова по теме: «Анализ материалов методами СЗМ/РАМАН/ИК микроскопии»
Комментарии (0)